塑料簿膜薄片测厚仪 CH-12.7-STSX

塑料簿膜薄片测厚仪 型号： CH-12.7-STSX

技术参数：

分度值：0.01mm

测量范围与准确度：0mm～12.7mm，≤0.005mm

用 途：于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定（大测量深度为80mm）

执行 标 准：GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979

技术参数：

分度值：0.01mm

测量范围与准确度：0mm～12.7mm，≤0.005mm

用 途：于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定（大测量深度为80mm）

执行 标 准：GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979

技术参数：

分度值：0.01mm

测量范围与准确度：0mm～12.7mm，≤0.005mm

用 途：于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定（大测量深度为80mm）

执行 标 准：GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979

技术参数：

分度值：0.01mm

测量范围与准确度：0mm～12.7mm，≤0.005mm

用 途：于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定（大测量深度为80mm）

执行 标 准：GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979

技术参数：

分度值：0.01mm

测量范围与准确度：0mm～12.7mm，≤0.005mm

用 途：于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定（大测量深度为80mm）

执行 标 准：GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979