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光耦参数测试仪型号：JFY3010A
详细介绍
※概述:
JFY3010A光耦参数测试仪，是一种专门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模MCU设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,电子产品生产厂家或电子元件供应商来料检测。
※ 测量元件类型:三管类型4脚 6脚光耦
※ 测量参数:
参数指标表:
参数項 |
测试参数 |
测试条件设置 |
输入正向压降(VF) |
0-2.000V |
0-400MA |
耐压(BVCEO) |
0-1200V |
0-2.000MA |
传输比(CTR) |
0-3000 |
VCE:0-20V IC:0-2.000A |
饱和压降(Vsat) |
0-2.000V |
IF:0-400MA IC:0-2.00A |
| 输出漏电流(Iceo) | 0-1mA | VCE=20V |
| 输入反向漏电流(IR) | 0-1mA | VR=4V |
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