数显薄膜测厚仪薄膜测厚仪TD-CH-12.7-STSX

发布时间： 2016-04-08　　点击次数： 644次

数显薄膜测厚仪/薄膜测厚仪型号：TD-CH-12.7-STSX
分度值：0.001mm
测量范围及准确度：0mm～12.7mm，≤0.005mm
于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定（zui大测量深度为80mm）
GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979

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